項目介紹

低溫測試的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能,。標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗前處理,、試驗初始檢測,、樣品安裝、中間檢測,、試驗后處理,、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件,、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求,。

低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂,、脆化,、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象,。

低溫的影響

1,、使材料發(fā)硬變脆；

2,、潤滑劑粘度增加,，流動能力降低,，潤滑作用減?。?/p>

3,、電子元器件性能發(fā)生變化,；

4、水冷凝結(jié)冰,；

5,、密封件失效；

6,、材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化,。

應(yīng)用范圍

低溫測試主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存,、生物制品,、遠(yuǎn)洋制品、電子元件,、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存,。

方法標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》

IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》